아드반테스트, 차세대 공랭식 SoC·파워 아날로그 테스트 솔루션 'T2000 AiR2X' 발표

아드반테스트(Advantest)의 차세대 공랭식 테스트 시스템 'T2000 AiR2X'

글로벌 반도체 테스트 장비 선도기업 아드반테스트(Advantest)가 차세대 공랭식 테스트 시스템 'T2000 AiR2X'를 공식 발표했다. 이번 신제품은 소형화와 비용 효율성을 극대화해, 반도체 평가 및 다품종 소량 생산 환경에서의 수요 증가에 대응한다.

T2000 AiR2X는 기존 T2000 시스템과 완벽하게 호환되며, 이전 세대 공랭식 T2000 AiR 대비 두 배 테스트 리소스를 제공한다. 동시에 낮은 전력 소모와 공랭식 구조를 유지해, 에너지 효율성과 공간 활용도를 크게 높였다.

이번 신제품은 T6500, T7700 등 레거시 시스템 지원 종료와 소형 공랭식 테스터 교체 수요 증가 등 다양한 시장 변화에 대응한다. 전 세계적으로 다수의 공랭식 SoC 테스트 시스템이 운용되는 가운데 T2000 AiR2X는 확장되는 시장에서 지속적인 수요를 충족할 것으로 기대된다.

T2000 AiR2X는 최대 12개의 측정 모듈을 지원하며, 펑션 테스트, 스캔 테스트, 고정밀 DC 테스트, 최대 320V의 자동차용 디바이스에 대한 DC 테스트 등 다양한 애플리케이션에 대응한다. 독자적인 멀티사이트 컨트롤러 기능을 통해 대량 생산 시 테스트 타임을 대폭 단축할 수 있다.

T2000 RECT550 퍼포먼스 보드를 채택해 다양한 구성에 유연하게 대응하며, 통합 지원 인프라와 확장 가능한 모듈 옵션, 기존 T2000과 동일한 프로그램 환경을 제공한다. Rapid Development Kit(RDK)를 통해 프로그램 작성 및 디버깅에 소요되는 노력을 줄여, 플랫폼 전환 및 도입 시간을 단축한다.

현재 산업용 MCU, 컨슈머 ASIC, 자동차·모바일용 배터리 모니터링 IC, 파워 아날로그 등 다양한 디바이스에 대한 초기 평가가 진행 중이며, 이달 내로 일반 출하가 시작될 예정이다.

아드반테스트는 오는 12월 17일부터 19일까지 도쿄 빅사이트에서 열리는 'SEMICON Japan'(부스번호:E4346)에서 T2000 AiR2X를 선보일 계획이다.

김현민 기자 minkim@etnews.com

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